mojiru【もじをもじる】

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ナノ計測の原理や最先端の研究例について解説した一冊

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ナノ学会編 シリーズ:未来を創るナノ・サイエンス&テクノロジー 第6巻 ナノ計測――電子線・光・プローブ技術を用いたナノ・バイオ材料の探索と評価 

インプレスグループで理工学分野の専門書出版事業を手掛ける株式会社近代科学社は、2020年8月31日に、重川秀実氏編著書、吉村雅満氏・目良裕氏・岡嶋孝治氏共著による、ナノ計測に関して数ある計測技術や手法について電子線を用いる方法から、光を用いる方法、原子レベルでの観察を可能とする走査型プローブ顕微鏡法に分けて解説した一冊「ナノ学会編 シリーズ:未来を創るナノ・サイエンス&テクノロジー 第6巻 ナノ計測――電子線・光・プローブ技術を用いたナノ・バイオ材料の探索と評価」を発売した。


【編著者】

重川秀実Profile

東京大学工学系研究科博士課程物理工学専攻中退。工学博士。
東京大学工学部物理工学科助手、筑波大学物質工学系助教授などを経て現在、筑波大学数理物質系教授。
専門は、極限計測、ナノ物性。
著書 / 訳書に、『極限実験技術(朝倉物性物理シリーズ4)』(分担執筆 朝倉書店 2003 年)、『いかにして実験をおこなうか -誤差の扱いから論文作成まで-』(分担翻訳 丸善出版 2006年)などがある。

 

【共著者】

吉村雅満Profile

東京大学工学系研究科博士課程中退。博士(工学)。
東京大学工学部物理工学科助手、広島大学助教授を経て現在、豊田工業大学教授。
専門は、ナノカーボン、プローブ顕微鏡。
著書 / 訳書に、『ナノ構造の科学とナノテクノロジー -量子デバイスの基礎を学ぶために-』(分担翻訳 共立出版 2011 年)、『走査プローブ顕微鏡と局所分光-実戦ナノテクノロジー-』(分担執筆 裳華房 2005 年)などがある。

 

目良裕Profile

東京大学工学系研究科博士課程中退。博士(工学)。
東京大学工学部物理工学科助手、同特任講師などを経て現在、滋賀医科大学教授。
専門は、格子欠陥、電子励起現象、プローブ顕微鏡。
著書に、『走査プローブ顕微鏡-正しい実験とデータ解析のために必要なこと-』(分担執筆 共立出版 2009 年)などがある。

 

岡嶋孝治Profile

東京工業大学理工学研究科物理学専攻博士課程中退。理学博士。
東京工業大学生命理工学研究科助手、北海道大学電子科学研究所付属ナノテクノロジー研究センター助教授などを経て現在、北海道大学大学院情報科学研究院教授。
専門は、細胞物性物理学。
著書に、『ナノテクのための物理入門(ナノテクノロジー入門シリーズ3)』(分担執筆 共立出版 2007年)、『細胞の特性計測・操作と応用』(分担執筆 コロナ社 2016 年)、『走査型プローブ顕微鏡(分析化学実技シリーズ15)』(分担執筆 共立出版 2017 年)などがある。

 

 

 


「ナノ学会編 シリーズ:未来を創るナノ・サイエンス&テクノロジー 第6巻 ナノ計測――電子線・光・プローブ技術を用いたナノ・バイオ材料の探索と評価」内容紹介

ナノテクノロジーという言葉は、アメリカ元大統領のクリントン氏が2000年に発表した「国家ナノテクノロジー戦略」で世界的に広がったといわれている。
その後、研究開発とともに技術革新が進み、時代は“真のナノ”領域、つまり、文字どおり「ナノ=10億分の1メートル」を視て操ることのできる世界に入ろうとしている。
 近年のナノテクノロジーは、異なる材料、たとえば半導体材料と生体材料を融合させて、新しい機能や物性を発見・定式化しようという、まったく新しい方向にも進んでいます。
その中で重要となるのが、観測対象に応じて新しい構造や機能をナノスケールで正しく計測・評価できる技術や手法。
「ナノ学会編 シリーズ:未来を創るナノ・サイエンス&テクノロジー 第6巻 ナノ計測――電子線・光・プローブ技術を用いたナノ・バイオ材料の探索と評価」は、数ある計測技術や手法について、電子線を用いる方法、光を用いる方法、原子レベルでの観察を可能とする走査型プローブ顕微鏡法に分けて解説するもの。
単なる計測法の紹介ではなく、その原理や最先端の研究例についても豊富に図版を使いながら説明していく。 


「ナノ学会編 シリーズ:未来を創るナノ・サイエンス&テクノロジー 第6巻 ナノ計測――電子線・光・プローブ技術を用いたナノ・バイオ材料の探索と評価」目次

 第1章 序論
1.1 ナノテクノロジーとナノ計測
1.2 ナノ構造と物性
1.3 計測とは
 1.3.1 電子線
 1.3.2 光
 1.3.3 イオン
 1.3.4 探針
1.4 各種プローブの測定環境と分解能

第2章 電子線と光を用いたナノ計測・評価法
2.1 電子線を用いる方法
 2.1.1 透過電子顕微鏡法
 (a)原理
  (i) 電子銃
  (ii) 明視野像と暗視野像、回折コントラスト
 (b)収差補正
 (c)走査型透過電子顕微鏡法(STEM)
 2.1.2 走査型電子顕微鏡法(SEM)
 (a)原理
 (b)結像メカニズム(傾斜効果)
 (c)加速電圧依存性
 (d)帯電(チャージアップ)
 (e)三次元イメージング
 (f) 後方散乱電子回折法(EBSD)
 (g)エネルギー分散型X 線分析法(EDX)
 2.1.3 超短パルス電子線による時間分解構造解析
2.2 光を用いる方法
 2.2.1 X 線回折法
 (a)ナノ構造への応用
  (i) 微小角X 線散乱法によるナノ表面解析(GIXD)
  (ii) 自由電子レーザー(高輝度X 線)による金属ナノ粒子の粒度分布と内部組織の複合分析
 2.2.2 X 線光電子分光法(XPS)
 (a)原理
 (b)化学結合測定例
 2.2.3 振動分光法
 (a)原理
 (b)赤外分光法
 (c)測定例(赤外分光法)
 (d)ラマン分光法
 (e)測定例(ラマン散乱法)
  (i) ナノカーボン(CNT、グラフェン)
  (ii) 結晶歪み
  (iii) 三次元マッピング(SiC)
 (f) ナノ材料評価のための空間分解能の向上に向けて
 2.2.4 ポンププローブ法
 2.2.5 蛍光顕微鏡法
 2.2.6 超解像顕微鏡法
 (a)STED 法
 (b)PALM 法
 2.2.7 放射光
 (a)挿入光源
 (b)放射光を利用したナノ物性測定
  (i) 測定例1:グラフェンFET 界面における電荷移動領域の直接観察
  (ii) 測定例2:放射光STM
 2.2.8 光ピンセット

第3章 プローブ顕微鏡を用いる方法と応用
3.1 プローブ顕微鏡法を用いたナノ計測・評価法
 3.1.1 走査型トンネル顕微鏡法(STM)
 (a)基礎・原理
 (b)トンネル分光法
 (c)非弾性トンネル分光法
 (d)磁性探針を用いた分光法
 (e)光変調トンネル分光法
 (f) STM 電場変調分光法
 (g)光学的ポンプローブSTM
 (h)探針増強電場の評価
 3.1.2 原子間力顕微鏡法(AFM)
 (a)表面形態の評価
 (b)フォースカーブ測定
  (i) 原理
  (ii) 測定例
 (c)摩擦力を測る
 (d)表面電位計測
 (e)高速AFM
 3.1.3 その他のプローブ顕微鏡法
 (a)走査型イオン伝導顕微鏡法(SICM)
 (b)走査型電気化学顕微鏡法(SECM)
 (c)熱計測(SThM・L TA)
 (d)超音波計測
3.2 太陽電池材料、pn 接合の局所評価
3.3 単一分子の伝導計測
3.4 分子間力測定
3.5 細胞力学診断
3.6 固液界面
3.7 STM 発光分光法

付録
A.1 単振動の合成とフーリエ解析
A.2 回路の基本
A.2.1 フィルター
A.2.2 ロックイン計測法
A.3 低次元バンド構造
A.4 ブラッグ条件
A.5 結晶構造因子
A.6 全反射
A.7 ゴム弾性
A.8 弾性率
A.9 細胞サンプル
A.10 レナードジョーンズポテンシャル
A.11 探針増強

 

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